A.±1mm
B.±3mm
C.±5mm
D.±7mm
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A.缺陷位置的測(cè)量準(zhǔn)確性
B.缺陷長(zhǎng)度的測(cè)量準(zhǔn)確性
C.缺陷高度的測(cè)量準(zhǔn)確性
D.以上A和B
A.提高信號(hào)幅度
B.減少噪聲
C.減少盲區(qū)的影響
D.以上都對(duì)
A.減少洪水層厚度變化對(duì)圖像的影響
B.提高缺陷深度的測(cè)量精度
C.提高缺陷長(zhǎng)度的測(cè)量精度
D.以上都對(duì)
A.4個(gè)
B.8個(gè)
C.12個(gè)
D.16個(gè)
A.數(shù)字化樣本的間隔是0.01μs,樣本數(shù)量為2000個(gè)
B.數(shù)字化樣本的間隔是0.02μs,樣本數(shù)量為1000個(gè)
C.數(shù)字化樣本的間隔是0.04μs,樣本數(shù)量為800個(gè)
D.數(shù)字化樣本的間隔是0.05μs,樣本數(shù)量為500個(gè)
最新試題
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。