用根軌跡法進(jìn)行系統(tǒng)校正，是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計，所以，在校正裝置設(shè)計之后，需要進(jìn)行（），看被忽略掉的系統(tǒng)極點(diǎn)對系統(tǒng)動態(tài)性能的影響。正因?yàn)榻惦A處理的粗略性，設(shè)計初確定主導(dǎo)極點(diǎn)位置時需要留出（）。

閉環(huán)極點(diǎn)的積等于開環(huán)極點(diǎn)的積。（）

采樣控制系統(tǒng)在采樣間隔期間，對作用于系統(tǒng)的擾動沒有補(bǔ)償作用。（）

滯后校正的轉(zhuǎn)折頻率選得距截止頻率越遠(yuǎn)，滯后校正裝置本身在處造成的相角滯后就（）。然而，距越遠(yuǎn)，容易造成“（）”現(xiàn)象。

在原點(diǎn)附近增加一對開環(huán)偶極子，根軌跡的走向和特征根的位置（），所以基本上不改變系統(tǒng)的（）特性，其作用主要是改變系統(tǒng)的（），提高系統(tǒng)的靜態(tài)精度。