首頁(yè)
題庫(kù)
網(wǎng)課
在線模考
桌面端
登錄
搜標(biāo)題
搜題干
搜選項(xiàng)
0
/ 200字
搜索
填空題
在使用OTDR對(duì)光纖進(jìn)行測(cè)試的過程中,活動(dòng)連接器、機(jī)械接頭和光纖中的斷裂點(diǎn)都會(huì)引起損耗和較大的反射,稱之為()事件。
答案:
反射
點(diǎn)擊查看答案
手機(jī)看題
你可能感興趣的試題
填空題
在使用OTDR對(duì)光纖進(jìn)行測(cè)試的過程中,光纖熔接頭和微彎帶來的損耗一般反射較小,稱之為()事件。
答案:
非反射
點(diǎn)擊查看答案
手機(jī)看題
多項(xiàng)選擇題
目前使用的典型單纖活動(dòng)連接器主要有()。
A.兩件式連接器
B.三件式連接器
C.多模連接器何單模連接器
D.裸纖連接器
點(diǎn)擊查看答案
手機(jī)看題
微信掃碼免費(fèi)搜題