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XRD、SEM、TEM、EPMA、DTA分別代表X射線(xiàn)衍射分析、()、()、電子探針?lè)治龊筒顭岱治龇治龇椒ā?/h4>
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掃描電子顯微分析;透射電子顯微分析
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在樣品臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)的工作模式下,X射線(xiàn)衍射儀探頭轉(zhuǎn)動(dòng)的角速度是樣品轉(zhuǎn)動(dòng)角速度的二倍。
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判斷題
放大倍數(shù)是判斷顯微鏡性能的根本指標(biāo)。
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