如圖為“用DIS研究機(jī)械能守恒定律”的實(shí)驗(yàn)。關(guān)于實(shí)驗(yàn)中的操作,下列說(shuō)法中正確的是()
A.實(shí)驗(yàn)中針對(duì)A、B、C、D四個(gè)點(diǎn)測(cè)量四次,是為了多次測(cè)量從而減小誤差
B.每次釋放擺錘的位置可以不同
C.調(diào)整光電門的位置時(shí),要利用測(cè)平器,使光電門的透光孔位于所測(cè)點(diǎn)的高度
D.懸掛擺錘的細(xì)線要選擇具有一定彈性的橡皮繩
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用DIS研究機(jī)械能守恒定律的實(shí)驗(yàn)裝置如圖a,圖b是某同學(xué)某次的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),實(shí)驗(yàn)中系統(tǒng)默認(rèn)D、C、B、A各點(diǎn)高度分別為0、0.050、0.100、0.150,A點(diǎn)速度為0。D、C、B三點(diǎn)速度由光電門傳感器測(cè)得。分析圖b表中實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)得()
A.從B到C到D;機(jī)械能逐漸減小,是因?yàn)榭朔諝庾枇ψ龉?,機(jī)械能減小
B.從B到C到D;機(jī)械能逐漸減小,是因?yàn)橹亓?shì)能減小,機(jī)械能減小
C.A點(diǎn)的機(jī)械能數(shù)據(jù)明顯偏小,其原因是擺錘釋放器釋放點(diǎn)位置低于A點(diǎn)
D.A點(diǎn)的機(jī)械能數(shù)據(jù)明顯偏小,其原因是測(cè)平器位置低于A點(diǎn)
一質(zhì)量為m的物體從某一高處作自由落體運(yùn)動(dòng),已知物體落地時(shí)的動(dòng)能為Ek,則當(dāng)物體動(dòng)能為2Ek/3時(shí),物體距離地面的高度為()
A.A
B.B
C.C
D.D