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你可能感興趣的試題
A.渦流陣列技術(shù)掃查覆蓋區(qū)域大
B.陣列探頭是由多個(gè)獨(dú)立工作的線圈構(gòu)成,這些線圈按照特殊的方式排布
C.陣列探頭造價(jià)便宜
D.陣列探頭易于克服提離效應(yīng)影響
A.1-2倍
B.2-3倍
C.3-4倍
D.4-5倍
A.不受趨膚深度條件的限制
B.壁厚與相位滯后存在線性關(guān)系
C.適于短小的和非管狀的試件
D.對(duì)被檢管材的內(nèi)外壁缺陷具有相近的靈敏度
A.測(cè)電導(dǎo)率
B.電磁測(cè)厚
C.測(cè)電阻率
D.材質(zhì)分選
A.裂紋
B.外壁凹陷
C.腐蝕坑
D.直徑的逐漸變化
最新試題
若要檢出鑄鋼閥體表面和近表面缺陷,宜采用()。
下列缺陷可能影響無損檢測(cè)結(jié)果判斷的是:()。
裝配時(shí)預(yù)緊力、扭矩過大或在使用中過載,產(chǎn)生塑性變形而導(dǎo)致螺栓局部截面減小屬于螺栓螺母運(yùn)行缺陷中的哪種:()。
工件上剩磁對(duì)進(jìn)一步加工和使用的影響,錯(cuò)誤的是:()。
鑄造管中表現(xiàn)特征為半球形,橢球形或蝌蚪形等空腔的缺陷稱為:()。
C 型顯示是工件的平面投影圖,所以它可以得到某一深度范圍缺陷的三維形狀和分布。
下列屬于在役蒸汽發(fā)生器二次側(cè)外部目視檢驗(yàn)的是:()。
蒸汽發(fā)生器渦流檢查時(shí)發(fā)現(xiàn)傳熱管內(nèi)壁有異常信號(hào),疑是內(nèi)部裂紋,用內(nèi)窺鏡進(jìn)行復(fù)檢屬于:()。
下列關(guān)于退磁因子的敘述,正確的是()。
鍛件磁粉檢驗(yàn)時(shí),磁痕顯示不濃密,但對(duì)其表面打磨后磁痕更加清晰,可能是以下哪種缺陷造成的()?