A.如果已有檢測條件相同的衰減特性數(shù)據(jù)，可不再進行衰減特性測量；
B.檢測人員決定是否進行衰減特性測量；
C.如果已有檢測條件相同的衰減特性數(shù)據(jù)，應(yīng)進行衰減特性測量；
D.以上都對。
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A.4dB
B.3dB
C.±3dB
D.±4dB
A.產(chǎn)品合格證、質(zhì)量證明書、竣工圖。
B.運行記錄，開停車記錄，有關(guān)運行參數(shù)，介質(zhì)成份，載荷變化情況，以及運行中出現(xiàn)的異常情況等資料。
C.檢驗資料、歷次檢驗報告和記錄。
D.有關(guān)修理和改造的文件在檢測開始之前和結(jié)束之后應(yīng)進行。
E.確定加壓程序。
F.建立聲發(fā)射檢測人員和加載人員的聯(lián)絡(luò)方式。
A.在檢測開始之前和結(jié)束之后應(yīng)進行
B.在檢測開始之前進行
C.在檢測結(jié)束之后應(yīng)進行
D.以上都不是
A.30—100kHz
B.100—1MHz
C.100—400kHz
D.100—200kHz
A.15天
B.一個月
C.一周
D.二個月
最新試題
X射線檢驗人員負責對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應(yīng)標注，確保定位準確。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
射線檢測最有害的危險源是（），必須嚴加控制。
下面給出的射線檢測基本原理中，正確的是（）。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應(yīng)重新申請進行X射線檢測。
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）
補焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗負責，對兩個補焊區(qū)交界部位補焊次數(shù)的界定，需要通過底片觀察提供幫助時，X光室應(yīng)予以配合。
缺陷分類應(yīng)符合驗收標準的要求，標準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷，必要時可予以注明供有關(guān)人員參考，但不作為合格與否判定的依據(jù)。
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
對于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時，就可采用多膠片技術(shù)。