軸向測(cè)距可以應(yīng)用于復(fù)雜工件的（）等方面。

以下屬于聲光調(diào)制晶體的有（）。

成像測(cè)量法存在的問題，是當(dāng)物體沿景深方向移動(dòng)時(shí)，會(huì)造成放大倍率的變化，這會(huì)（）測(cè)量精度。因此，需要解決自動(dòng)調(diào)焦的問題。

具有可變電阻型伏安特性的光電檢測(cè)器件包括（）。

光伏探測(cè)器處于光電導(dǎo)工作模式，其外加偏壓為正向偏壓。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路時(shí)，需解決下面（）的動(dòng)態(tài)計(jì)算問題。

幾何變換的光電檢測(cè)方法，是利用光束傳播的（）、成像等光學(xué)變換方法進(jìn)行的光電檢測(cè)和控制。

紅外檢測(cè)技術(shù)是集光電成像、計(jì)算機(jī)技術(shù)、圖像處理于一身的綜合光電檢測(cè)技術(shù)。

具有恒流源型伏安特性的光電檢測(cè)器件包括（）。