填空題

在圓周面上弦向入射橫波檢測(cè)時(shí)，一旦發(fā)現(xiàn)缺陷，則缺陷距外圓面的埋藏深度要比在平面探測(cè)面情況下的埋藏深度（）。

答案： 小
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