A.保護(hù)裝置上投入檢修硬壓板，此時(shí)手持式調(diào)試儀SV通道品質(zhì)置檢修時(shí)，保護(hù)才能正確動(dòng)作；
B.保護(hù)裝置上投入檢修硬壓板，此時(shí)手持式調(diào)試儀SV通道品質(zhì)未置檢修時(shí)，保護(hù)無(wú)法正常采樣；
C.保護(hù)裝置上未投入檢修硬壓板，此時(shí)手持式調(diào)試儀SV通道品質(zhì)未置檢修時(shí)，保護(hù)才能正確動(dòng)作；
D.保護(hù)裝置上未投入檢修硬壓板，此時(shí)手持式調(diào)試儀SV通道品質(zhì)置檢修時(shí)，保護(hù)能采樣但無(wú)法正確動(dòng)作；

A.5ms
B.6ms
C.7ms
D.8ms

A.在“直采直跳”模式下，保護(hù)的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)采樣口和直跳口需要經(jīng)過(guò)網(wǎng)絡(luò)性能測(cè)試；
B.在“直采直跳”模式下，保護(hù)、智能終端、MU等IED的網(wǎng)絡(luò)性能測(cè)試是指其與交換機(jī)相聯(lián)的組網(wǎng)口的性能測(cè)試，組網(wǎng)口在壓力背景流量下整個(gè)裝置能否正常工作的測(cè)試是一項(xiàng)重要工作；
C.故障錄波、網(wǎng)絡(luò)報(bào)文記錄儀、交換機(jī)等需要經(jīng)過(guò)網(wǎng)絡(luò)性能測(cè)試；
D.計(jì)量裝置、測(cè)控裝置、PMU等需要經(jīng)過(guò)網(wǎng)絡(luò)性能測(cè)試；

A.交換機(jī)時(shí)延包括LIFO及FIFO兩種模式。
B.LIFO模式時(shí)延是指從輸入幀的最后一個(gè)比特到達(dá)輸入端口開始，至在輸出端口上檢測(cè)到輸出幀的第一個(gè)比特為止的時(shí)間間隔。
C.FIFO模式時(shí)延是指從輸入幀的第一個(gè)比特到達(dá)輸入端口開始，至在輸出端口上檢測(cè)到輸出幀的第一個(gè)比特為止的時(shí)間間隔。
D.LIFO為直通交換，F(xiàn)IFO為存儲(chǔ)轉(zhuǎn)發(fā)。

A.保護(hù)裝置GOOSE和SV光口類型為多模，波長(zhǎng)為1310nm，發(fā)送功率為-15dBm到-20dBm之間
B.保護(hù)裝置GOOSE和SV光口類型為多模，波長(zhǎng)為1310nm，最小接收功率小于-20dBm
C.保護(hù)裝置GOOSE和SV光口類型為多模，波長(zhǎng)為1310nm，發(fā)送功率為-10dBm到-20dBm之間
D.同步對(duì)時(shí)光口類型為多模，接收波長(zhǎng)為850nm，最小接收功率小于-15dBm