在復(fù)合材料疊層結(jié)構(gòu)的脈沖回波法檢查中，如果信號B消失，出現(xiàn)信號A（如圖所示），則一定是（）
A.疊層結(jié)構(gòu)存在分層
B.疊層結(jié)構(gòu)層數(shù)減少
C.A和B
D.不能確定
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圖是一組超聲檢查復(fù)合材料蜂窩內(nèi)積水情況示意圖（陰影區(qū)為積水）。由圖示判斷，如果探頭在位置4處的熒光屏出現(xiàn)的波形圖應(yīng)是（）
A.A圖
B.B圖
C.C圖
D.D圖
圖是一組超聲檢查復(fù)合材料蜂窩內(nèi)積水情況示意圖（陰影區(qū)為積水）。由圖示判斷，如果探頭在位置4處的熒光屏出現(xiàn)的波形圖應(yīng)是（）
A.A圖
B.B圖
C.C圖
D.D圖
圖是一組超聲檢查復(fù)合材料蜂窩內(nèi)積水情況示意圖（陰影區(qū)為積水）。由圖示判斷，如果探頭在位置2處的熒光屏出現(xiàn)的波形圖應(yīng)是（）
A.A圖
B.B圖
C.C圖
D.D圖
圖是一組超聲檢查復(fù)合材料蜂窩內(nèi)積水情況示意圖（陰影區(qū)為積水）。由圖示判斷，如果探頭在位置1處的熒光屏出現(xiàn)的波形圖應(yīng)是（）
A.A圖
B.B圖
C.C圖
D.D圖
A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點或暗點顯示回波信號、形成平面投影圖
最新試題
儀器水平線性影響（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。
單探頭法容易檢出（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
利用底波計算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時，適用的工件厚度為（）。
（）是影響缺陷定量的因素。