A.0.76μm-1.1μm
B.1.1μm-2.5μm
C.3μm-5μm
D.8μm-14μm
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.3級(jí)
B.4級(jí)
C.5級(jí)
D.6級(jí)
A.顏色
B.輻射率
C.焦距
D.測(cè)量距離
A.一般缺陷
B.嚴(yán)重缺陷
C.緊急缺陷
D.無(wú)缺陷
A.6
B.9
C.12
D.48
A.略高于
B.遠(yuǎn)高于
C.低于
D.等于
![](https://static.ppkao.com/ppmg/img/appqrcode.png)
最新試題
對(duì)于運(yùn)行中的 GIS 設(shè)備,檢測(cè)到顆粒信號(hào)的幅值為(),則應(yīng)縮短檢測(cè)周期,監(jiān)測(cè)運(yùn)行。
超聲波法,正常運(yùn)行設(shè)備220kV~750kV電壓等級(jí)設(shè)備檢測(cè)周期為1年()次。
電磁力引起的振動(dòng):當(dāng)鐵磁共振時(shí),()倍的磁密度的增加將導(dǎo)致勵(lì)磁電流電壓互感器的正常值過(guò)大,正常電流可能達(dá)到數(shù)百甚至數(shù)千倍,由于過(guò)度勵(lì)磁,PT會(huì)引起不正常的嗡嗡聲,從而引起GIS外殼的劇烈振動(dòng)。
對(duì)于126kVGIS,如果100Hz信號(hào)幅值遠(yuǎn)大于50Hz信號(hào)幅值,且(),應(yīng)停電處理。
SF6氣體濕度帶電檢測(cè)的安全條件包括SF6電氣設(shè)備外殼應(yīng)接地良好,不應(yīng)操作除()之外的其它部分。
自由金屬微粒產(chǎn)生的超聲波信號(hào)主要由運(yùn)動(dòng)過(guò)程中與設(shè)備外殼的碰撞引起,而與放電關(guān)聯(lián)較()。
GIS局部放電的超聲波檢測(cè)原理是通過(guò)超聲波傳感器檢測(cè)GIS中發(fā)生局部放電時(shí)產(chǎn)生的()信號(hào),獲得局部放電特征信息。
GIS局部放電超聲波檢測(cè)結(jié)果,判斷為電暈放電缺陷的依據(jù)是()。
GIS局部放電超聲波檢測(cè)結(jié)果,判斷為自由顆粒缺陷的依據(jù)是()。
GIS局部放電超聲波檢測(cè)多傳感器定位法利用()實(shí)現(xiàn)空間定位。