你可能感興趣的試題

關(guān)于局部放電，以下說(shuō)法不正確的是（）

A.測(cè)量局部放電規(guī)律可以預(yù)示主絕緣的情況，估計(jì)絕緣老化速度與絕緣壽命的重要依據(jù)
B.檢測(cè)方法有電氣檢測(cè)法和非電氣檢測(cè)法
C.局部放電是由于在局部區(qū)域中電場(chǎng)強(qiáng)度達(dá)到擊穿強(qiáng)度所引起
D.局部放電不影響設(shè)備絕緣

單項(xiàng)選擇題

用平衡電橋法測(cè)量試品的tgδ時(shí)，若試品一極接地，則只能采用（）接法，調(diào)節(jié)元件將處在（）電位。

A.正，高
B.正，低
C.反，高
D.反，低

按照設(shè)備是否帶電，電氣試驗(yàn)可分為（）

你可能感興趣的試題

關(guān)于局部放電，以下說(shuō)法不正確的是（）

用平衡電橋法測(cè)量試品的tgδ時(shí)，若試品一極接地，則只能采用（）接法，調(diào)節(jié)元件將處在（）電位。

按照設(shè)備是否帶電，電氣試驗(yàn)可分為（）

關(guān)于局部放電，以下說(shuō)法不正確的是（）

用平衡電橋法測(cè)量試品的tgδ時(shí)，若試品一極接地，則只能采用（）接法，調(diào)節(jié)元件將處在（）電位。