A.V模型測(cè)試的對(duì)象就是程序本身,測(cè)試與開發(fā)可以同一階段進(jìn)行 B.W模型測(cè)試的對(duì)象是程序,需求、設(shè)計(jì)等,可以支持迭代的開發(fā)模型 C.H模型軟件測(cè)試過(guò)程活動(dòng)完全獨(dú)立,貫穿產(chǎn)品整個(gè)生命周期,與其他流程并發(fā)地進(jìn)行 D.X模型是事先計(jì)劃再進(jìn)行測(cè)試
A.靜態(tài)測(cè)試、動(dòng)態(tài)測(cè)試 B.黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、灰盒測(cè)試 C.單元測(cè)試、集成測(cè)試、確認(rèn)測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試 D.以上都不對(duì)
軟件測(cè)試的目的正確的是()。 ①測(cè)試是為了發(fā)現(xiàn)程序中的錯(cuò)誤而執(zhí)行程序的過(guò)程; ②好的測(cè)試方案是極可能發(fā)現(xiàn)迄今為止尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的測(cè)試方案; ③成功的測(cè)試是發(fā)現(xiàn)了至今為止尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的測(cè)試; ④測(cè)試并不僅僅是為了找出錯(cuò)誤,通過(guò)分析錯(cuò)誤產(chǎn)生的原因和錯(cuò)誤的發(fā)生趨勢(shì),可以幫助項(xiàng)目管理者發(fā)現(xiàn)當(dāng)前軟件開發(fā)過(guò)程中的缺陷,以便及時(shí)改進(jìn)。
A.① B.①②③ C.②③④ D.①②③④