在水分測(cè)定過(guò)程中，干燥盤中的試樣厚度應(yīng)小于（）mm。

X射線熒光光譜分析中，充氣正比探測(cè)器所用P10氣體中氬氣的比例為90%，（）的比例為10%。

測(cè)定聚合釜樣品轉(zhuǎn)化率時(shí)，已烷蒸發(fā)到達(dá)終點(diǎn)時(shí)的標(biāo)志是（）。

保留的分析試樣，是化學(xué)分析試樣出現(xiàn)丟失或污染后的（）。

光吸收曲線的（），是分光光度法檢測(cè)時(shí)選擇波長(zhǎng)的依據(jù)。