晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

熱分析中，不同性質的氣氛對測試結果沒有影響。

孔徑半角越小，衍射效應所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。

關于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)。

根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。