多項(xiàng)選擇題磁粉探傷用的磁粉常采用混合目數(shù)的磁粉，是因?yàn)槭裁丛颍ǎ?/strong>

A.要求發(fā)現(xiàn)大小不同的缺陷
B.要求發(fā)現(xiàn)表面的近表面的缺陷
C.磁粉施加方式的影響
D.要求發(fā)現(xiàn)內(nèi)部缺陷


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1.多項(xiàng)選擇題剩磁法的優(yōu)點(diǎn)是（）

A.檢驗(yàn)效率高
B.可用與干法檢驗(yàn)
C.目視可達(dá)性好
D.可以達(dá)到足夠的探傷靈敏度

2.多項(xiàng)選擇題按相對(duì)磁導(dǎo)率的差異，可以把磁介質(zhì)分為（）

A.順磁材料
B.抗磁材料
C.鐵磁性材料

3.多項(xiàng)選擇題超聲波探傷掃查時(shí)應(yīng)注意哪些問(wèn)題（）

A.掃查速度
B.接觸的穩(wěn)定性
C.方向性
D.同步與協(xié)調(diào)

4.多項(xiàng)選擇題超聲波探頭的選用原則是什么（）

A.對(duì)探測(cè)距離大，靈敏度要求不高的可采用大晶片，低頻率的探頭
B.對(duì)探測(cè)距離短，靈敏度要求高的應(yīng)采用小晶片，高頻率的探頭
C.對(duì)工件表面粗糙，形狀復(fù)雜的宜采用小晶片探頭
D.對(duì)工件表面粗糙，形狀復(fù)雜的宜采用大晶片探頭

5.多項(xiàng)選擇題接觸式縱波直探頭中阻尼塊作用為（）

A.抑制晶片余振
B.吸收晶片背面反射干擾波
C.降低晶片機(jī)械品質(zhì)因數(shù)
D.提高晶片機(jī)械品質(zhì)因數(shù)