在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結(jié)構。

根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。

變形振動分為（）。

拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實驗操作有（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。