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三維光學(xué)掃描儀是目前三維形狀測量中最好的方法之一,主要缺點是不能掃描深色、透光物體、點云邊界不清晰等。
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三維光學(xué)掃描儀是目前三維形狀測量中最好的方法之一,主要優(yōu)點有測量范圍大、能掃略大曲率表面、易于操作等。
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三維光學(xué)掃描儀是目前三維形狀測量中最好的方法之一,主要優(yōu)點有測量范圍大、精度高、點云多、易于操作等。
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