底片清晰度與膠片顆粒度的關系是（）

對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

射線照片上細節(jié)影像的可識別性主要決定于（）

原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。

以下試塊中，能用于測定縱波直探頭分辨力的是（）

一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

下列對耦合劑應該具有的特點的描述，不正確的一項是（）

物質(zhì)對輻射的吸收是隨什么而變（）

一般認為表面波探測的有效深度約為（）

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關系是（）