A.經過足夠多的重復實驗,可以發(fā)現(xiàn)實驗儀器的系統(tǒng)誤差
B.經過足夠多的重復實驗,可以降低測量過程中的偶然誤差
C.實驗儀器的不精確、實驗步驟設計不科學都屬于系統(tǒng)誤差
D.實驗室溫度、研究人員的工作狀態(tài)對測量的影響屬于偶然誤差
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A.均方根偏差可以為負數(shù)
B.均方根偏差越大,則相對均方根偏差也必然越大
C.均方根偏差與相對均方根偏差在實際測量中是一個意思
D.相對均方根偏差越小,則測量越精確
A.二者都是常用的統(tǒng)計參數(shù)
B.對于一個隨機變量而言,它的數(shù)學期望、方差的量綱是不同的
C.實驗次數(shù)有限時,算術平均值等于數(shù)學期望
D.方差描述的是隨機變量偏離均值的程度
A.可以近似為指數(shù)衰減過程
B.會有一定的最大射程
C.半衰減厚度就是此時的平均自由程
D.水、冰、水蒸氣的線性衰減系數(shù)相同
A.反散射峰的產生原因就是康普頓效應
B.康普頓截面與介質原子電荷量的2次方成正比
C.散射光子的能量是連續(xù)的,但是反沖電子的能量不連續(xù)
D.如果γ射線與探測器外的物質發(fā)生了康普頓效應,則不可能探測到這個γ光子的信息
A.電子對效應
B.光電效應
C.康普頓效應
D.湯姆遜散射
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最新試題
下列對探測器本征探測效率沒有影響的是()。
對于(D,D)反應和(D,T)反應,下列描述正確的是()。
對偶然符合描述正確的是()。
關于24Na-9Be中子源的描述不正確的是()。
下列關于真符合的描述錯誤的是()。
改變下列哪項不會對活度探測產生明顯影響?()
軔致輻射對γ能譜的影響,描述錯誤的是()。
下列對于常用的中子探測器的描述不正確的是()。
測量能量10keV的γ射線,觀察到了在20keV處有一個明顯的峰,對于這些計數(shù)的分析正確的是()。
下列對中子與原子核的反應截面的描述不正確的是()。