A.提高增益(增加靈敏度)并從另一面掃查,以提高信噪比
B.提高頻率并采用大直徑探頭,以減小聲束擴散角來降低部分雜波
C.在深度方向上分區(qū)域調(diào)整靈敏度和評定,以避開近距離雜波的干擾
D.改用透射法雙探頭掃查,以減少聲能損失
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A.IN718
B.Ti-6Al-4V
C.4340
D.2024
A.接近于前表面
B.在底面附近
C.在板的中部
D.以上都有可能
A.單晶片直射縱波
B.雙晶片斜射縱波
C.斜入射橫波
D.雙探頭透射法
A.φ2.0-6dB/100 mm
B.φ2.0+6dB/100 mm
C.φ2.0-12dB/100 mm
D.φ2.0+12dB/100 mm
A.193.5%
B.93.5%
C.12.5%
D.1.0%
最新試題
儀器水平線性影響()。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
()是影響缺陷定量的因素。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
單探頭法容易檢出()。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。