A.初級(jí)離子數(shù)與探測(cè)體積內(nèi)帶電粒子軌跡上沉積的能量成正比
B.適合測(cè)量低強(qiáng)度輻射場(chǎng),每次相互作用中收集到的電荷量與探測(cè)器內(nèi)氣體中沉積的能量成正比
C.測(cè)量?jī)x的壁內(nèi)側(cè),通常附加一層硼化合物,或者測(cè)量?jī)x內(nèi)充BF3氣體
D.適用于泄漏測(cè)試和放射性污染的探測(cè)
E.有很高的體積電阻抗(如CdS、CdSe),該類探測(cè)器在輻射場(chǎng)中接受照射時(shí)工作原理與固態(tài)電離室相似