單項選擇題對于單晶斜探頭，在使用中經(jīng)常要校驗的參數(shù)是（）
A.入射點或探頭前沿
B.折射角
C.聲軸線偏移或偏斜
D.以上都是
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1.單項選擇題軟保護(hù)膜探頭使用于（）的工件表面。
A.光結(jié)表面
B.粗糙表面
C.A和B
D.視具體情況
2.單項選擇題超聲波探頭的頻率與壓電晶片厚度有關(guān)，晶片越薄則（）
A.頻率越低
B.頻率越高
C.頻率不變
D.以上都不對
3.單項選擇題目前工業(yè)常用的超聲波測厚儀利用的是（）
A.連續(xù)波穿透法
B.脈沖波反射法
C.連續(xù)波共振法
D.剪切波諧振法
4.單項選擇題評價超聲波探傷儀在規(guī)定靈敏度下發(fā)現(xiàn)并顯示最小缺陷能力的指標(biāo)是（）
A.分辨率
B.時基線性
C.垂直線性
D.動態(tài)范圍
5.單項選擇題超聲波檢測儀的分辨率主要與（）有關(guān)。
A.掃描電路
B.頻帶寬度
C.動態(tài)范圍
D.放大倍數(shù)
最新試題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
題型：單項選擇題
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
題型：單項選擇題
在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：單項選擇題
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項選擇題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型：單項選擇題
儀器水平線性影響（）。
題型：單項選擇題
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型：單項選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
題型：單項選擇題
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。
題型：單項選擇題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
題型：單項選擇題