A.Ι=(1200~2000)/N(A)
B.Ι=(12000~20000)/N(A)
C.Ι=(10000~15000)/N
D.Ι=(10000~12000)/N
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A.安培數(shù)
B.安匝數(shù)
C.瓦特?cái)?shù)
D.歐姆數(shù)
A.熒光磁粉比非熒光磁粉對(duì)缺陷的檢出率高
B.要用與探傷面形成低對(duì)比度的磁粉
C.磁懸液就是磁粉探傷用的水液或油液
D.磁粉越細(xì)越好
A.檢測(cè)表面缺陷
B.檢測(cè)近表面缺陷
C.以上都對(duì)
D.以上都不對(duì)
A.效率高
B.效率低
C.能用于復(fù)合磁化
D.靈敏度高
A.電磁軟鋼與低碳鋼只能用連續(xù)法
B.連續(xù)法必須要將工件磁化到飽和
C.通電時(shí)間比剩磁法長(zhǎng)
D.熱處理后的彈簧鋼、工具鋼、軸承鋼只能用連續(xù)法檢查
最新試題
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來,最主要的是決定于()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括()
發(fā)生康普頓散射的條件是()