A.探頭前沿短
B. 折射角大
C. 晶片面積小、
D. 以上同時考慮
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A. CSK－ⅠA
B. T3型
C. CSK－ⅡA
D. T1型
A. CS1 型
B. CS2型
C. T2型
D. T1型
A. 直探頭、縱波斜探頭、橫波斜探頭
B. 雙晶探頭、縱波斜探頭、橫波斜探頭
C. 雙晶探頭、直探頭、縱波斜探頭、縱波雙晶斜探頭
D. 雙晶探頭、直探頭、橫波斜探頭
A. 直探頭在翼板外側(cè)上掃查檢測
B. 斜探頭在翼板外側(cè)掃查檢測
C. 直探頭在腹板上掃查檢測
D. 斜探頭在腹板上掃查檢測
A. 試塊法
B. 通用 AVG 曲線法
C. 底波計算法
D. 以上都可以
最新試題
用斜探頭檢測板厚T = 20mm ，上、下焊縫寬度為30mm的對接接頭，探頭前沿長度為 20mm ，為保證聲束能掃查到整個焊接接頭截面，試確定用一、二次波檢測時探頭的K值？
用2.5P20Z直探頭檢測厚400mm的鋼鍛件（CL=5900m/s ） ，檢測靈敏度校準(zhǔn)（400/Ф2）后進行檢測，發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷，缺陷波幅比基準(zhǔn)波幅高30dB，求此缺陷當(dāng)量？
用CSK－IA 試塊測定斜探頭和儀器的分辨力,現(xiàn)測得臺階孔Ф50、Ф44 反射波等高時波峰高h1=80% ,h2=25% ,求分辨力為多少？
用K2斜探頭檢測T = 28mm 的鋼板對接接頭 ，儀器按深度1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時衰減器讀數(shù)為34dB ， 試塊與工件耦合差為5dB ，（1） 如何調(diào)節(jié)評定線Ф1×6－9dB靈敏度？（2） 檢測中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，其波高達面板曲線時， 衰減器讀數(shù)為28dB，求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域？（按照JB/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)）
用2.5P20Z探頭檢測厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 如何用試塊上的深150mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處的檢測靈敏度（400/Ф2）？
用K2.5斜探頭檢測T = 12mm 的鋼板對接接頭 ，儀器按水平1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時衰減器讀數(shù)為38dB ， 試塊與工件耦合差為6dB 。
用2.5P14Z探頭檢測某鍛件，發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB，另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2，檢測總面積為0.5米×0.5米，同時發(fā)現(xiàn)一單個缺陷，當(dāng)量為Φ4+10dB，試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評定此鍛件等級。
用2.5P14Z探頭檢測鍛件，利用工件100mm大平底，如何校準(zhǔn)同工件，厚度180m處 的檢測靈敏度？
模擬式超聲波探傷儀用K1.0斜探頭，對準(zhǔn)CSK-ⅠA試塊R50和R100圓弧，顯示屏上R50和R100圓弧回波分別對準(zhǔn)刻度35.4和70.8 。求按橫波深度調(diào)節(jié)其掃描速度為多少？
用5P10×12K2.5探頭，檢測板厚T = 20 mm 的鋼對接焊接接頭，掃描時基線按水平1：1調(diào)節(jié)，檢測時，水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個，試分別求這兩個缺陷的深度？