A. 大于當(dāng)量尺寸
B. 等于當(dāng)量尺寸
C. 小于當(dāng)量尺寸
D. 以上都可能
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A. <80%
B. ≥80%
C. <60%
D. ≥60%
A. 大于非擴(kuò)散區(qū)
B. 大于近場(chǎng)區(qū)
C. 大于3倍近場(chǎng)區(qū)
D. 以上全部
A. 4dB/mm
B. 4dB/m
C. 0.4dB/mm
D. 0.4dB/m
A. φ2當(dāng)量平底孔
B. φ3當(dāng)量平底孔
C. φ4當(dāng)量平底孔
D. φ2當(dāng)量長(zhǎng)橫孔
A. 餅形
B. 碗形
C. 筒形
D. 以上都是
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最新試題
用K1探頭探測(cè)外徑為600mm焊縫筒體,計(jì)算能探測(cè)的壁厚最大厚度是多少?
用2.5P14Z探頭檢測(cè)某鍛件,發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB,另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2,檢測(cè)總面積為0.5米×0.5米,同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷,當(dāng)量為Φ4+10dB,試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定此鍛件等級(jí)。
用5P10×12K2.5探頭,檢測(cè)板厚T = 20 mm 的鋼對(duì)接焊接接頭,掃描時(shí)基線按水平1:1調(diào)節(jié),檢測(cè)時(shí),水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個(gè),試分別求這兩個(gè)缺陷的深度?
用K2斜探頭檢測(cè)T = 28mm 的鋼板對(duì)接接頭 ,儀器按深度1:1調(diào)節(jié),在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線,這時(shí)衰減器讀數(shù)為34dB , 試塊與工件耦合差為5dB ,(1) 如何調(diào)節(jié)評(píng)定線Ф1×6-9dB靈敏度?(2) 檢測(cè)中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波,其波高達(dá)面板曲線時(shí), 衰減器讀數(shù)為28dB,求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域?(按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn))
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件,鋼中CL=5900m/s , 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm , (1)如用試塊(衰減可忽略)上的深200mm ,Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者的波高差為多少? (2)如果用厚度為200mm的試塊(鍛件與試塊衰減系數(shù)相同,耦合差為5dB)底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者反射波高差為多少?
檢測(cè)板厚T=20mm的鋼板對(duì)接焊接接頭,上焊縫寬34mm,下焊縫寬25mm,選用K2探頭,前沿距離L0=16mm,用一、二次波法能否掃查到整個(gè)焊縫截面?是否能滿足要求?
用CSK-IA 試塊測(cè)定斜探頭和儀器的分辨力,現(xiàn)測(cè)得臺(tái)階孔Ф50、Ф44 反射波等高時(shí)波峰高h(yuǎn)1=80% ,h2=25% ,求分辨力為多少?
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚350mm的鋼鍛件(CL=5900m/s ) ,如何用工件底波校準(zhǔn)檢測(cè)靈敏度(350/ф2)?
檢測(cè)板厚T = 24mm 的鋼板對(duì)接焊接接頭,上焊縫寬34mm , 下焊縫寬26mm ,選用K2 探頭,前沿距離l0 = 16mm ,用一、二次波能掃查到整個(gè)焊縫截面?
用2.5P14Z探頭檢測(cè)鍛件,利用工件100mm大平底,如何校準(zhǔn)同工件,厚度180m處 的檢測(cè)靈敏度?