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單項(xiàng)選擇題

探頭的晶片尺寸增加對(duì)探頭的（）有不利影響。

A. 聲束的指向性
B. 近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度
C. 遠(yuǎn)距離缺陷檢出能力
D. 以上都是

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單項(xiàng)選擇題

超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)于定量要求高的情況應(yīng)選則（）的儀器。

A. 水平線性誤差小
B. 垂直線性好、衰減器精度高
C.盲區(qū)小、分辨率好
D. 靈敏度余量高、信噪比高、功率大

單項(xiàng)選擇題

主要用來(lái)發(fā)現(xiàn)與探測(cè)面平行的片狀缺陷的雙探頭法是（）。

A. 交叉式
B. V型串列式
C. K型串列式
D. 串列式

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