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CSK-ⅠA試塊上φ50 、φ44、φ40 三孔的臺(tái)階,可用來(lái)測(cè)定斜探頭的分辨力。
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判斷題
CSⅢ試塊是一種適用于檢測(cè)面為曲面的鍛件檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊。
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判斷題
用雙晶直探頭檢測(cè)厚度不大于20mm的鋼板時(shí),應(yīng)采用CB-Ⅱ標(biāo)準(zhǔn)試塊對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行 校準(zhǔn)。
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