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問答題為什么用X射線粉末法測定晶胞參數(shù)時常用高角度數(shù)據(jù)（有時還根據(jù)高角度數(shù)據(jù)外推至θ=90°），而測定超細晶粒的結構時要用低角度數(shù)據(jù)（小角散射）？

1.問答題寫出Bragg方程的兩種表達形式，說明（hkl）與hkl，d_（hkl）與d_（hkl）之間的關系以及衍射角θ_n隨衍射級數(shù)n的變化。

2.問答題 在直徑為57.3mm的相機中，用CuKα射線拍金屬銅的粉末圖。從圖上量得8對粉末線的2L值為：44.0，51.4，75.4，90.4，95.6，117.4，137.0，145.6mm。試計算下表各欄數(shù)值，求出晶胞參數(shù)，確定晶體點陣型式。

3.問答題金屬鎳的立方晶胞參數(shù)a=352.4pm，試求d₂₀₀，d₁₁₁，d₂₂₀。

4.問答題 標出下面點陣結構的晶體指標。每組面話出3條相鄰的直線表示。

5.問答題寫出在3個坐標軸上的截距分別為-2a，-3b和-3c的點陣面的指標；寫出指標為（321）的點陣面在3個坐標軸上的截距之比。