你可能感興趣的試題

關(guān)于直接轉(zhuǎn)換型平板探測(cè)器工作原理的描述，錯(cuò)誤的是（）

A.入射X線光子在硒層中產(chǎn)生電子-空穴對(duì)
B.電子和空穴向相頂層電極移動(dòng)
C.信號(hào)電流被相應(yīng)檢測(cè)單元的接收電極所收集
D.儲(chǔ)能電容中電荷量與入射X線強(qiáng)度成正比
E.采集單元儲(chǔ)能電容中積聚的電荷被依次讀出

單項(xiàng)選擇題

關(guān)于直接轉(zhuǎn)換型平板探測(cè)器結(jié)構(gòu)的描述，錯(cuò)誤的是（）

A.玻璃基板
B.集電矩陣
C.非晶硒層
D.半導(dǎo)體層
E.頂層電極

關(guān)于間接轉(zhuǎn)換型平板探測(cè)器結(jié)構(gòu)的描述，錯(cuò)誤的是（）

你可能感興趣的試題

關(guān)于直接轉(zhuǎn)換型平板探測(cè)器工作原理的描述，錯(cuò)誤的是（）

關(guān)于直接轉(zhuǎn)換型平板探測(cè)器結(jié)構(gòu)的描述，錯(cuò)誤的是（）

關(guān)于間接轉(zhuǎn)換型平板探測(cè)器結(jié)構(gòu)的描述，錯(cuò)誤的是（）

關(guān)于直接轉(zhuǎn)換型平板探測(cè)器結(jié)構(gòu)的描述，錯(cuò)誤的是（）