A.20mm
B.50mm
C.100mm
D.200mm
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A.試塊比較
B.試塊計(jì)算
C.AVG曲線
D.以上都可以
A.聲程標(biāo)定法
B.水平標(biāo)定法
C.深度標(biāo)定法
D.以上都是
A.不受工件底面狀況影響
B.不需要考慮傳輸修正
C.適用于厚度小于3N的工件
D.以上都是
A.不受工件底面狀況影響
B.不需要考慮傳輸修正
C.適用于厚度大于3N的工件
D.以上都是
A.根據(jù)入射角度不同,試件中可同時(shí)產(chǎn)生縱波和橫波
B.根據(jù)入射角度不同,試件中可產(chǎn)生純橫波
C.根據(jù)入射角度不同,試件中可產(chǎn)生表面波
D.以上都正確
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。