A.過程打點(diǎn)可能出界
B.過程打點(diǎn)不會(huì)出界
C.過程打點(diǎn)一定出界
D.以上都有可能
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A.過程一定處于統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài)
B.過程一定沒有特殊原因
C.過程可能有特殊原因
D.以上都對(duì)
A.多個(gè)
B.單獨(dú)
C.成對(duì)
A.檢驗(yàn)一個(gè)樣本是否來自正態(tài)總體
B.若確定是正態(tài)分布,可估計(jì)正態(tài)均值和正態(tài)標(biāo)準(zhǔn)差
C.可用來檢驗(yàn)一個(gè)樣本是否來自對(duì)數(shù)正態(tài)分布
D.用來檢驗(yàn)一個(gè)樣本是否來自二項(xiàng)分布
A.過程平均是變化的,可能仍處于變化之中
B.測量系統(tǒng)是變化的
C.這個(gè)過程是不變的
D.測量系統(tǒng)是不變的
E.只有A和B
F.只有C和D
A.正確
B.錯(cuò)誤
最新試題
當(dāng)X-MR圖中有連續(xù)9個(gè)點(diǎn)落在中心線同一側(cè)時(shí),說明過程處于()
SPC意思是統(tǒng)計(jì)過程控制。
變差
控制計(jì)劃規(guī)定的特殊特性應(yīng)做統(tǒng)計(jì)過程控制—SPC。
特殊特性
因?yàn)閄(bar)-R圖最為精確和敏感,較其它方法優(yōu)勢更強(qiáng),因此大多數(shù)企業(yè)都選擇使用該方法。
當(dāng)控制圖中有連續(xù)14點(diǎn)交替升降時(shí),說明過程處于()
當(dāng)控制計(jì)劃要求對(duì)相關(guān)工序尺寸進(jìn)行SPC統(tǒng)計(jì)過程控制時(shí),公司相關(guān)部門進(jìn)行圖控制并進(jìn)行過程能力研究。
Ppk用于批量生產(chǎn)時(shí)對(duì)過程能力分析,Cpk用于批產(chǎn)前對(duì)過程能力的分析。
特殊原因都是惡性的,都應(yīng)該進(jìn)行剔除。