因為X（bar）-R圖最為精確和敏感，較其它方法優(yōu)勢更強，因此大多數(shù)企業(yè)都選擇使用該方法。

重要過程事件（如工具變更，機器修理等）須摘記于相應之控制圖及/或直方圖上。

Ppk用于批量生產(chǎn)時對過程能力分析，Cpk用于批產(chǎn)前對過程能力的分析。

1924年，美國的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運用于生產(chǎn)過程當中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗所分析的過程能力的控制界限比較，而以時間順序表示出來的圖形）。通過對過程變差進行控制，為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎。

控制限

“σ ”指 （），是用來衡量一個總數(shù)里標準誤差的統(tǒng)計單位。

R

當過程能力較高時，為降低成本，采取方法使之降低。

控制計劃規(guī)定的特殊特性應做統(tǒng)計過程控制—SPC。

變差