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當(dāng)缺陷聲程X=N/2(N 為探頭晶片近場(chǎng)長(zhǎng)度)時(shí),由于此時(shí)主聲束處聲壓為零,故無(wú)法檢測(cè)。
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聚焦探頭的焦點(diǎn)是一個(gè)聚焦區(qū),焦柱長(zhǎng)度與焦柱直徑之比為常數(shù),等于焦距與聲源直徑之比的4倍。
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機(jī)械品質(zhì)因子Q
m
越小,則脈沖寬度越小,分辨率就越高。
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