A.壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)大，則說明該晶片的發(fā)射性能好
B.壓電晶片的壓電電壓常數(shù)大則說明該晶片的發(fā)射性能好
C.壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)大，則說明該晶片的接收性能好
D.壓電晶片的壓電電壓常數(shù)大，則說明該晶片的接收性能好
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A.壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)大，則說明該晶片的發(fā)射性能好
B.壓電晶片的壓電電壓常數(shù)大，則說明該晶片的發(fā)射性能好
C.壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)大，則說明該晶片的接收性能好
D.壓電晶片的壓電電壓常數(shù)大，則說明該晶片的接收性能好
A.所有的液體（水除外），其聲速都隨著溫度的升高而增大
B.所有的液體（水除外），其聲速都隨著溫度的升高而降低
C.當(dāng)溫度低于74℃時，聲速隨溫度的升高而增大
D.當(dāng)水的溫度在74℃左右時，水的聲速最大
最新試題
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時，若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力，則應(yīng)力作用會使工件彈性增加，導(dǎo)致聲速減慢。
儀器時基線調(diào)節(jié)比例時，若回波前沿沒有對準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn)，會使缺陷定位誤差增加。
當(dāng)探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束，發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的，因此也就難以確定缺陷的實際位置。
對于圓柱體而言，外圓徑向檢測實心圓柱體時，入射點處的回波聲壓實際上由于圓柱面耦合不及平面，因而其回波高于平底面，會使定量誤差增加。
由于圓柱形工件有一定的曲率，直探頭與工件直接接觸時，接觸面為一條很寬的條形區(qū)域，從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會產(chǎn)生強烈的聲束擴散。