（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結果沒有影響。

在體心點陣中，當（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。