A.測(cè)試是程序的運(yùn)行過程,目的在于發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤。
B.一個(gè)好的測(cè)試用例在于能夠發(fā)現(xiàn)至今未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤。
C.一個(gè)成功的測(cè)試是發(fā)現(xiàn)了至今未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的測(cè)試。
D.測(cè)試的目標(biāo)是以最少的時(shí)間和人力改正軟件中潛在的各種錯(cuò)誤和缺陷。
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A.為了說明軟件中沒有缺陷
B.減少軟件缺陷
C.發(fā)現(xiàn)軟件缺陷
D.為了說明提高軟件產(chǎn)品的質(zhì)量可以依賴軟件測(cè)試
A.需求錯(cuò)誤、集成錯(cuò)誤、系統(tǒng)結(jié)構(gòu)錯(cuò)誤
B.測(cè)試定義與測(cè)試執(zhí)行錯(cuò)誤、實(shí)現(xiàn)和編碼錯(cuò)誤、數(shù)據(jù)錯(cuò)誤
C.需求錯(cuò)誤、程序結(jié)構(gòu)錯(cuò)誤、集成錯(cuò)誤
D.程序結(jié)構(gòu)錯(cuò)誤、數(shù)據(jù)錯(cuò)誤、功能與性能錯(cuò)誤
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最新試題
基于功能的測(cè)試設(shè)計(jì)與黑合測(cè)試設(shè)計(jì)一樣。
如果不進(jìn)行測(cè)試設(shè)計(jì),要徹底地測(cè)試一個(gè)龐大而又復(fù)雜的信息系統(tǒng)是不可能的。
在軟件生命周期中,能準(zhǔn)確地確定軟件系統(tǒng)必須做什么和必須具備哪些功能的階段是()。
主機(jī)入侵檢測(cè)系統(tǒng)通常情況下比網(wǎng)絡(luò)入侵檢測(cè)系統(tǒng)誤報(bào)率要低。
不同的測(cè)試技術(shù)適用于不同的時(shí)間點(diǎn)。