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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】在質(zhì)控品的實(shí)際操作中，對(duì)于穩(wěn)定性較長(zhǎng)的質(zhì)控物，如何設(shè)定中心線？
答案：
對(duì)于穩(wěn)定性較長(zhǎng)的新批號(hào)質(zhì)控品，應(yīng)與即將用完的舊批號(hào)質(zhì)控品一起平行測(cè)定一段時(shí)間。根據(jù)20次或更多獨(dú)立批次獲得的至少20個(gè)結(jié)...
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Z-分?jǐn)?shù)
答案：
是指質(zhì)控品測(cè)定結(jié)果與本系列質(zhì)控品平均數(shù)之差，再除以本系列質(zhì)控品的標(biāo)準(zhǔn)差而得到，計(jì)算公式為：Z-分?jǐn)?shù)=（Xi-X）/s
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基質(zhì)與基質(zhì)效應(yīng)
答案：
對(duì)某一分析物進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，處于該分析物周?chē)钠渌煞志褪窃摲治鑫锏幕|(zhì)。這些基質(zhì)成分對(duì)分析物檢測(cè)時(shí)的影響稱(chēng)為基質(zhì)效應(yīng)。
