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按校正裝置Gc(s)的物理性質(zhì)區(qū)分,又有相位超前(微分)校正,相位滯后(積分)校正,和相位滯后—超前(積分-微分)校正。
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系統(tǒng)校正的方法,按校正裝置在系統(tǒng)中的位置和連接形式區(qū)分,有串聯(lián)校正、并聯(lián)(反饋)校正和前饋(前置)校正三種。
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PI校正為相位滯后校正。
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