A.頻率或晶片直徑減少時(shí)增大
B.頻率或晶片直徑減少時(shí)減少
C.頻率增加而晶片直徑減少時(shí)減少
D.頻率或晶片直徑增大時(shí)增大
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A.激勵(lì)電脈沖的寬度
B.發(fā)射電路阻尼電阻的大小
C.晶片材料和厚度
D.晶片的機(jī)電耦合系數(shù)
A.越低
B.越高
C.基本不變
D.沒(méi)有影響
A.減少
B.保持不變
C.增大
D.隨波長(zhǎng)均勻變化
A.石英晶體
B.鈦酸鋇
C.鋯鈦酸鉛
D.鈦酸鉛
A.20kHz
B.30kHz
C.40kHz
D.50kHz
最新試題
依據(jù)《建筑基坑支護(hù)技術(shù)規(guī)程JGJ120-2012》,應(yīng)采用鉆芯法,對(duì)墻體混凝土質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè)。
鉆芯法采取芯樣后,應(yīng)將鉆芯清洗干凈后封存。
采用動(dòng)力觸探試驗(yàn)評(píng)價(jià)復(fù)合地基的增強(qiáng)體施工質(zhì)量時(shí),測(cè)試點(diǎn)應(yīng)布置在增強(qiáng)體的樁體中心附近。
各種類(lèi)型圓錐動(dòng)力觸探試驗(yàn)所使用探頭的錐角都是相同的。
水泥土樁鉆芯法試驗(yàn)時(shí),宜選用較大的鉆頭壓力。
確定砂土密實(shí)度時(shí),標(biāo)準(zhǔn)貫入錘擊數(shù)應(yīng)進(jìn)行修正。
鉆芯法提鉆卸取芯樣時(shí),可輕輕敲打鉆具,以便卸芯。
根據(jù)《建筑地基檢測(cè)技術(shù)規(guī)范》JGJ340相關(guān)要求,用標(biāo)準(zhǔn)貫入錘擊數(shù)評(píng)價(jià)砂土的承載力,如果細(xì)砂地層與粗砂地層的錘擊數(shù)相同,則細(xì)砂地層的地基承載力高于粗砂地層的地基承載力。
采用動(dòng)力觸探試驗(yàn)評(píng)價(jià)強(qiáng)夯置換墩著底情況時(shí),測(cè)試點(diǎn)位置可選擇在置換敦中心或邊緣位置。
分析輕型動(dòng)力觸探數(shù)據(jù)時(shí),應(yīng)對(duì)錘擊數(shù)進(jìn)行修正。