A.加熱、形變、成型和冷卻 B.加熱、形變 C.形變、成型 D.以上都不全面
A.缺陷反射面大小 B.缺陷性質(zhì) C.缺陷取向 D.以上全部
A.單斜探頭法 B.單直探頭法 C.雙斜探頭前后串列法 D.分割式雙直探頭法