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X射線熒光光譜法分析線的強(qiáng)度與分析面的磨紋方向有關(guān),因此,在測(cè)量時(shí)采取轉(zhuǎn)動(dòng)試樣的方法,以減少誤差。
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判斷題
X射線熒光光譜分析康普頓散射線內(nèi)標(biāo)法不能校正基體的吸收效應(yīng),只能校正增強(qiáng)效應(yīng)。
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X射線熒光光譜分析康普頓散射線內(nèi)標(biāo)法是根據(jù)靶線的康普頓散射線的強(qiáng)度很敏感地受樣品成分的影響而設(shè)計(jì)的分析方法。
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