多項選擇題在X射線熒光分析中,當樣品研磨到極細時,則()基本消失;將樣品制成薄層并薄到臨界厚度以下時,分析線所受的()與樣品的組成無關(guān)。

A.均勻性
B.粒度效應
C.輻射
D.吸收-增強效應


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