微觀形貌分析主要借助各種顯微技術(shù)來(lái)認(rèn)識(shí)材料的微觀結(jié)構(gòu)。

與電子探針相比，離子探針的分析深度更深。

樣品質(zhì)量偏大可能會(huì)造成失重曲線向高溫方向偏移。

光學(xué)顯微鏡的放大及分辨作用主要由下列（）來(lái)?yè)?dān)當(dāng)，其優(yōu)劣直接決定了顯微鏡的主要光學(xué)性能。

電子探針的主要作用是用來(lái)進(jìn)行（）分析。

在三個(gè)假設(shè)的前提下，運(yùn)動(dòng)學(xué)理論在處理衍射強(qiáng)度時(shí)，采用了（）兩個(gè)基本近似。

對(duì)于完整晶體，當(dāng)偏離矢量恒定時(shí)，厚度改變，會(huì)產(chǎn)生等厚條紋襯度。

一個(gè)體心立方晶體，下面哪個(gè)衍射斑點(diǎn)不消光？（）

掃描電子顯微鏡隨放大倍數(shù)的增大，電子束直徑（）。

下列（）不屬于透射電子顯微鏡的特點(diǎn)。