對(duì)于完整晶體，當(dāng)偏離矢量恒定時(shí)，厚度改變，會(huì)產(chǎn)生等厚條紋襯度。

不存在位錯(cuò)、第二相粒子等缺陷的晶體，稱為理想晶體或者是完整晶體。

DMA測(cè)試常見(jiàn)的兩種掃描測(cè)試方式為（）。

電子探針中能譜儀和波譜儀均需長(zhǎng)期置于低溫狀態(tài)。

在物相定性分析時(shí)，所使用的PDF卡片檢索手冊(cè)，以d值數(shù)列為索引稱為（）。