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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】進(jìn)行簇優(yōu)化時(shí)，如何利用掃頻儀的測(cè)試結(jié)果對(duì)區(qū)域的覆蓋/干擾情況做總體判斷？
答案：
利用掃頻儀對(duì)特定頻點(diǎn)的測(cè)試結(jié)果可以得到電平/信噪比分布統(tǒng)計(jì)，理想的分布是盡量高比例的打點(diǎn)分布于高電平/高信噪比的區(qū)域，如...
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問(wèn)答題
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答案：
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】請(qǐng)簡(jiǎn)述TD-LTE中的ACK/NACK捆綁模式（ACK/NACK Bundling）和ACK/NACK復(fù)用模式（ACK/NACK Mutiplexing）之間的差別。
答案：
在TD-LTE中，當(dāng)一個(gè)上行子幀需要ACK多個(gè)下行子幀時(shí)，ACK/NACK捆綁模式是指將多個(gè)下行子幀的某個(gè)碼字的所有AC...
