判斷題

水平裂縫會(huì)使深、淺側(cè)向電阻率都降低。

答案：正確

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深淺雙側(cè)向電阻率曲線的重疊顯示，能比較有效地識(shí)別地層的裂縫，并可以分析裂縫的角度。

答案：正確

垂直裂縫會(huì)使深、淺側(cè)向電阻率都降低。

答案：錯(cuò)誤

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