與電子探針相比，離子探針的分析深度更深。

DMA測(cè)試常見的兩種掃描測(cè)試方式為（）。

在DSC曲線中，如果出現(xiàn)明顯的峰，將峰出現(xiàn)部分的曲線向基線做積分，則會(huì)求出（）。

對(duì)于完整晶體，當(dāng)偏離矢量恒定時(shí)，厚度改變，會(huì)產(chǎn)生等厚條紋襯度。

在材料后加工方式中，下列（）不屬于修飾的加工方法。