透射式高能電子衍射只適用于對(duì)薄層樣品的分析的原因在于與X射線相比，電子穿透能力差。

對(duì)于完整晶體，當(dāng)偏離矢量恒定時(shí)，厚度改變，會(huì)產(chǎn)生等厚條紋襯度。

電子探針的主要作用是用來(lái)進(jìn)行（）分析。

受力流動(dòng)成型和自由流動(dòng)成型方式均是在物料流動(dòng)狀態(tài)下進(jìn)行，區(qū)別在于有無(wú)外力作用。

質(zhì)厚襯度與散射物體不同部位的密度和厚度的差異無(wú)關(guān)。

在材料后加工方式中，下列（）不屬于修飾的加工方法。

在物相定性分析時(shí)，所使用的PDF卡片檢索手冊(cè)，以d值數(shù)列為索引稱為（）。

對(duì)于劇烈放熱效應(yīng)的特殊樣品，例如爆炸物等，應(yīng)加大熱分析設(shè)備的加熱速率。

衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)理論忽略動(dòng)力學(xué)效應(yīng)，沒(méi)有考慮入射波與衍射波的相互作用。

衍射線在空間的分布（也就是晶面間距）主要反映（）。